Forskning
BASTION, Testinstrumentering för åldrande och NFF m.a.p. kretskort och System-on-Chip
2014-01-01 -> 2016-12-31
Forskning
Projektet fokuserar på att hitta lösningar på två växande problem: ”No Failure Found” och ”Ageing”. Projektet undersöker möjligheter att bygga in mätinstrument i produkter för att i ett tidigt skede kunna upptäcka fel, ställa diagnos och behandla fel. Med hjälp av inbyggda testinstrument ska forskarteamet mäta vad som pågår under tiden produkten används.