Godkända
Integration of a Digital Built-in Self-Test for On-Chip Memories
Masoud Nouripayam () och Xiao LUO ()
Start
2017-05-02
Presentation
2017-12-04 11:00
Plats:
E:3139
Avslutat:
2017-12-12
Examensrapport:
Sammanfattning
Handledare: Joachim Rodrigues (EIT)
Examinator: Pietro Andreani (EIT)